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硅光晶圆性能系统测试方案

Test plan for silicon wafer performance system

  • On Wafer硅光芯片测试
    On Wafer硅光芯片测试

    硅光子技术利用集成电路的制造工艺与光通信技术的高带宽优势,实现了在晶圆级别的高效率光电转换与信号处理。Everise通过自研软件同步控制精密探针台及光电测试设备,能够高效且精准地进行硅光芯片相关的波长域测试,直流域测试,频域测试及可靠性测试。测试项包含: IL/PDL 、LIV、bias-control、Bandwidth、Phase,、group delay与Return loss等。


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