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半导体射频前端测试系统解决方案

Solution for semiconductor RF front-end testing sy

  • 晶圆级CP测试系统
    晶圆级CP测试系统

    上海恒榉提供了灵活配置的测试方案,拥有业界领先的UPH、测试精度和丰富的交付经验,能够快速地帮助客户部署测试系统。测试系统主要由矢量网络分析仪、探针台、上位机软件以及相关的附件(GPIB线缆、射频线缆、薄膜探卡及校准片等)组成,该系统支持业界主流的矢量网络分析仪,借助自主研发的上位机软件,提供业界领先的测试速度与精度。


  • 设计验证测试DVT 及封装测试系统
    设计验证测试DVT 及封装测试系统

    上海恒榉的解决方案能够快速、全面地对功率放大器模块(如PAD设备)进行特性测试,包括S参数、解调、功率、相邻信道功率和谐波失真等测量。基于Keysight的N7614EMBC和N9055EM0E功率放大器测试软件,使数字预失真(DPD)和包络追踪信号的生成与分析成为可能。另外,恒榉的解决方案控制软件实现了信号源与任意波形发生器(AWG)之间的紧密同步,从而实现输入信号与包络之间的最佳对准。


  • 分选测试一体机FT测试系统
    分选测试一体机FT测试系统

    恒榉分选测试一体机专注于芯片FT测试,在追求速度更快,精度更高的同时,也秉承着以技术为支撑,以客户为中心,为广大用户提供稳定可靠且高效的服务方针。一体机主要由矢量网络分析仪、Handler、上位机软件以及相关的附件组成,该系统主要应用于半导体芯片后道生产,能全自动完成芯片的外观及尺寸检测、电参数测试、激光打印标示、标示检测、分类筛选储存及最终编带包装输出等多种功能的一体化设备。借助自主研发的上位机软件,提供业界领先的测试速度和精度。


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