插入损耗（IL）和偏振相关损耗（PDL）的准确测量对于无源光器件性能验证至关重要。本解决方案集成激光源，偏振合成器，光功率计和光子应用套件，采用穆勒矩阵方法实现高效、准确的芯片级与模块级 IL/PDL 测试。Everise光子测试软件，图形化测试流程，可一键生成定制化Datasheet，最大程度简化测试流程，助力无源光器件IL/PDL参数的量产与研发测试。