硅光子技术利用集成电路的制造工艺与光通信技术的高带宽优势，实现了在晶圆级别的高效率光电转换与信号处理。Everise通过自研软件同步控制精密探针台及光电测试设备，能够高效且精准地进行硅光芯片相关的波长域测试，直流域测试，频域测试及可靠性测试。测试项包含: IL/PDL 、LIV、bias-control、Bandwidth、Phase,、group delay与Return loss等。

插入损耗（IL）和偏振相关损耗（PDL）的准确测量对于无源光器件性能验证至关重要。本解决方案集成激光源，偏振合成器，光功率计和光子应用套件，采用穆勒矩阵方法实现高效、准确的芯片级与模块级IL/PDL 测试。Everise光子测试软件，图形化测试流程，可一键生成定制化Datasheet，最大程度简化测试流程，助力无源光器件IL/PDL参数的量产与研发测试。

Everise 提供的综合光模块测试解决方案，整合了行业领先的 Keysight N1092X 系列采样示波器与 N107XX 系列时钟恢复仪（CDR），误码仪，能够进行高达 64GBd PAM4 的精准测试。本方案可选用多通道测试优化软件，搭建多模块并行测试环境，减少测试过程的排队等待时间，降本增效。系统支持全面的信号完整性分析，支持 25G/28Gbps NRZ、53G/56Gbps PAM4、 106G/112Gbps PAM4 光信号测试。提供100G、400G、800G压力容限测试方案。可测试项目包括噪声裕量、误码率、SER 和 TDECQ 等测试项，确保光模块满足IEEE 802.3国际通信标准的所有性能要求。

针对研发测试及200Gbps及以上的光模块测试，采用Keysight DCA-X系列采样示波器及其配套模块，提供全面、精准、高效的测试解决方案。该方案包括Keysight AWG和M8000系列误码仪，支持从250Mb/s到224Gb/s PAM4的测试，覆盖光学和电学等多个测试项目，确保各类光模块在各项性能指标上的测试可靠性和稳定性。

Keysight DCA-M 系列基于是德科技的数字通信分析仪（DCA）技术而设计，被广泛认可为验证光发射机是否符合通信标准的标杆仪器。DCA-M 采用紧凑外形设计，提供从单通道到四通道的光通道和电通道选择，适用于制造业和研发应用。

扫描电子显微镜分为桌面式扫描电镜、立式扫描电镜（钨灯丝）、冷场扫描电镜。 根据放大倍数不同选择。

硅光子技术利用集成电路的制造工艺与光通信技术的高带宽优势，实现了在晶圆级别的高效率光电转换与信号处理。Everise通过自研软件同步控制精密探针台及光电测试设备，能够高效且精准地进行硅光芯片相关的波长域测试，直流域测试，频域测试及可靠性测试。测试项包含: IL/PDL 、LIV、bias-control、Bandwidth、Phase,、group delay与Return loss等。

上海恒榉电子科技有限公司可以基于 Keysight等厂家的综测仪/信号源/频谱仪/网络分析仪等设备，为客户提供射频前端完成测试方案，包括：

上海恒榉电子科技有限公司在功率半导体器件参数测试方面有丰富的经验，不仅可以基于Keysight的B150xA/B290xA等设备，提供：

上海恒榉电子科技有限公司在高速芯片测试方面有深厚的积累及丰富的经验，可以基于Keysight的示波器，误码仪等设备，为客户提供完整的TX/RX方案，包括高速探针，高低温箱，高速夹具，EVB板，切换开关等。 另外，针对高速芯片回片测试需要大量重复的高低温测试以及关键参数提取等，恒榉电子还可以一整套完整的自动化测试软件，以帮助客户提高测试效率。

上海恒榉电子科技有限公司在元器件测试行业有着丰富的经验，尤其是在毫米波段。基于Keysight网络分析仪和其他射频测试仪表，恒榉可以提供完整的射频元器件测试方案，如FeMid(集成开关、滤波器和双工器)和PaMid(集成多模式多频带PA和FeMid)以及AiP和毫米波前端模块。