硅光子技术利用集成电路的制造工艺与光通信技术的高带宽优势，实现了在晶圆级别的高效率光电转换与信号处理。Everise通过自研软件同步控制精密探针台及光电测试设备，能够高效且精准地进行硅光芯片相关的波长域测试，直流域测试，频域测试及可靠性测试。测试项包含: IL/PDL 、LIV、bias-control、Bandwidth、Phase,、group delay与Return loss等。

插入损耗（IL）和偏振相关损耗（PDL）的准确测量对于无源光器件性能验证至关重要。本解决方案集成激光源，偏振合成器，光功率计和光子应用套件，采用穆勒矩阵方法实现高效、准确的芯片级与模块级IL/PDL 测试。Everise光子测试软件，图形化测试流程，可一键生成定制化Datasheet，最大程度简化测试流程，助力无源光器件IL/PDL参数的量产与研发测试。

Everise 提供的综合光模块测试解决方案，整合了行业领先的 Keysight N1092X 系列采样示波器与 N107XX 系列时钟恢复仪（CDR），误码仪，能够进行高达 64GBd PAM4 的精准测试。本方案可选用多通道测试优化软件，搭建多模块并行测试环境，减少测试过程的排队等待时间，降本增效。系统支持全面的信号完整性分析，支持 25G/28Gbps NRZ、53G/56Gbps PAM4、 106G/112Gbps PAM4 光信号测试。提供100G、400G、800G压力容限测试方案。可测试项目包括噪声裕量、误码率、SER 和 TDECQ 等测试项，确保光模块满足IEEE 802.3国际通信标准的所有性能要求。

针对研发测试及200Gbps及以上的光模块测试，采用Keysight DCA-X系列采样示波器及其配套模块，提供全面、精准、高效的测试解决方案。该方案包括Keysight AWG和M8000系列误码仪，支持从250Mb/s到224Gb/s PAM4的测试，覆盖光学和电学等多个测试项目，确保各类光模块在各项性能指标上的测试可靠性和稳定性。

Keysight DCA-M 系列基于是德科技的数字通信分析仪（DCA）技术而设计，被广泛认可为验证光发射机是否符合通信标准的标杆仪器。DCA-M 采用紧凑外形设计，提供从单通道到四通道的光通道和电通道选择，适用于制造业和研发应用。