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无源光器件IL/PDL测试解决方案

Passive Optical Device IL/PDL Testing Solution

  • 无源光器件IL/PDL测试解决方案

    插入损耗(IL)和偏振相关损耗(PDL)的准确测量对于无源光器件性能验证至关重要。本解决方案集成激光源,偏振合成器,光功率计和光子应用套件,采用穆勒矩阵方法实现高效、准确的芯片级与模块级 IL/PDL 测试。Everise光子测试软件,图形化测试流程,可一键生成定制化Datasheet,最大程度简化测试流程,助力无源光器件IL/PDL参数的量产与研发测试。


    咨询热线

    400-800-3290
  • 产品特点
  • 主要参数
  • 测试图示
  • · 快速偏振态切换:使用偏振合成器实现快速偏振态切换,能够在短时间内完成多种偏振态的测量,提高测试效率。同步记录输出功率和偏振态,确保测量过程中的数据同步性和一致性。

    · 穆勒矩阵法:采用国际标准的穆勒矩阵方法(IEC 61300-3-2 和 IEC 61300-3-29),提供了极高的测量精度和可靠性。

    · 多通道测试:支持多通道测试,适用于复杂的光网络组件,如多路复用器和开关等,能够同时测量多个端口,提高测试效率。

    · 定制化软件:图形化测试流程,一键生成Datasheet,最大程度简化测试流程。保证测试结果的精确的同时,提高生产效率。

    · 高动态范围和高分辨率:支持高动态范围和高分辨率的测量,特别适用于 DWDM 组件的精细波长测量。


    1. 1240-1380 nm /1340-1495 nm /1450-1650 nm/1490-1640 nm输出波长覆盖OESCL测波段;

    2. 波长最大扫描速度200 nm/s;

    3. 激光源最大功率:> +12 dBm;绝对波长准确度:±1.5 pm;信号与SSE 比:≥ 80 dB/nm;

    4. 6种SOP快速切换,短达10μS切换时间;提供50μS的稳定输出;

    5. 光功率计最短采样时间1μS。



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