N7788C 光器件分析仪集偏振控制和分析功能于一体，适用于实验室中的多种应用。特别是，N7788C 可以与可调谐激光源配合使用，测量光器件对信号偏振态（SOP）的影响。该测量基于广义标准琼斯矩阵本征分析法（JME），采用独特的单次扫描偏振相关法来确定参数，如偏振模色散（PMD）、差分群时延（DGD）和偏振相关损耗（PDL）。这种方法使得测量更加高效和准确。